标题:烧结晶粒与树胶的折射率分析显微镜

信息分类:站内新闻   作者:yiyi发布   时间:2019-11-1 9:21:00 将本页加入收藏

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正文:

烧结晶粒与树胶的折射率分析显微镜

    另一种分类是根据晶界两边原子排列的边贯性来划分的。当界面
两侧酌晶体具有非常相似的结构和类似取向,越过界面的原子应是连
续的,;这样的界面称为共格晶界。晶格参数相同或差异不大时,才
会出现共格界面。晶格参数不同时,通过位错可形成半共格晶界:晶
格参数相差太大时,不可能是共格晶界,而与相邻晶体伺有畸变的原
子排列,这样的晶界称为非共格晶界,通过烧结得到的多晶体,绝大
多数为这类晶界。即使在单相体系中,虽然物质的犀格参数相同,由
于小晶粒的位向不同,也不会出现共格。显然,;共格界面能比司巨
共格界面能低。在界面上的组成单元比晶粒内部的能量高,但比表面
上的低。
    晶界和相界是杂质优先聚集的地方,结构单元堆积比晶体内部疏
松,看起来如同无定形玻璃,它与晶粒内部的性能有明显的差别。晶
界上的杂质浓度随温度升高而增加。
    从晶界的拓扑学来说,在一个点上决不会出现四个或更多的晶界
,这是因为这种状态是不稳定的。一般来说,三个晶界构成120°的角
。只有六角形晶体的直线晶界是介稳的,弯曲晶界(截面角少于六个时
向外弯曲,多于六个时向内弯曲)是不稳定的。

    多色性强弱还与切片方位及薄片厚度有关:同种晶体不同方向切
片的多色性强度不同。平行二轴晶光轴面及一轴晶光轴切片上多色性
最显著,垂直光轴切片不显多色性。薄片愈厚显示的多色性及吸收性
愈显著,在超薄片中不明显,甚至看不到。
    与晶体对光线折射引起的有关性质
    薄片中晶粒与周围介质(包括其他晶体、玻璃体及粘结剂树胶等)
之间的折射率不等,光线透过二者界面时将发生折射。由于薄片中所
有晶粒均可与折射率为1.540的加拿大树胶接触,在后者与晶粒的相
界面因光线折射将产生边缘、糙面、突起及贝克线等光学现象,从而
可比较晶体折射率的相对高低。
    (1)轮廓线  晶粒与树胶的折射率不等,光线射到二者介面时,因
折射使交界处光线偏折而减少,在周围出现一条暗线,称为轮廓线,
又称边缘。轮廓线的粗细及明暗程度决定于晶体与树胶的相对折射率
,二者折射率相差愈大轮廓线就愈粗愈暗,反之就不明显,甚至只有
采取缩小光圈才能看到轮廓线的痕迹。
    (2)贝克线  与边缘产生的同时还有一条因折射光线集中而出现的
亮线,称为贝克线,亦如图2—18所示。薄片中轮廓线和贝克线是相伴
平行而生的,无论接触关系如何,轮廓线总是出现在二者交界线处,
而贝克线总是在折射率较高的介质一边,而且升降镜筒改变物镜的焦
点平面时,轮廓线不动而贝克线则作平行轮廓线的左右移动。











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